Przydatnosc elektronowej mikroskopii skaningowej [SEM] do badan mikrostruktury papierow wypelnianych

• Autorzy: Szymanski A. , Kaczmarek B. , Sokolow W.N.

Warianty tytułu

EN

Suitability of scanning electron microscopy [SEM] for studying of filled paper microstructure

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

EN

Słowa kluczowe

PL

przemysl papierniczy; wypelniacze; dolomit; kreda; kaolin; wlasciwosci papieru; papier; mikrostruktura; metody badan; mikroskopia skaningowa

• Wydawca: -
• Czasopismo: Przegląd Papierniczy
• Rocznik: 1993
• Tom: 49
• Numer: 04
• Opis fizyczny: s.119,120,124-129,rys.,tab.,bibliogr.

Twórcy

autor

Szymanski A.

• Instytut Celulozowo-Papierniczy, ul.Gdanska 121, Lodz

autor

Kaczmarek B.

autor

Sokolow W.N.