Importance of wheat grain orientation for the detection of internal mechanical damage by the X-ray method

• Autorzy: Grundas S. , Velikanov L. , Archipov M.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Słowa kluczowe

EN

grain hardness; internal damage; X-ray method; mechanical damage; wheat grain

• Wydawca: -
• Czasopismo: International Agrophysics
• Rocznik: 1999
• Tom: 13
• Numer: 3
• Opis fizyczny: p.355-361,fig.

Twórcy

autor

Grundas S.

• Polish Academy of Sciences, Doswiadczalna 4, P.O.Box 201, 20-290 Lublin 27, Poland

autor

Velikanov L.

autor

Archipov M.