Mikroskopia sił atomowych - nowa jakość pomiarów

• Autorzy: Rozniatowski K. , Rebis J. A.

Warianty tytułu

EN

Atomic force microscopy - new quality of measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

EN

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia sil atomowych; nanostruktury; pomiary; sonary skanujace; modyfikacja; dokladnosc pomiaru; mikroskop sil atomowych; mikroskop Veeco

• Wydawca: -
• Czasopismo: Towaroznawcze Problemy Jakości. Polskie Towarzystwo Towaroznawcze
• Rocznik: 2013
• Numer: 1
• Opis fizyczny: s.27-37,wykr.,fot.,bibliogr.

Twórcy

autor

Rozniatowski K.

• Zakład Projektowania Materiałów, Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, Wołoska 141, 02-507 Warszawa

autor

Rebis J. A.

• Zakład Projektowania Materiałów, Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, Wołoska 141, 02-507 Warszawa