Przejdź do menu głównego
Przejdź do treści
PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
test
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Artykuł - szczegóły
Narzędzia
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Adres strony
Kopiuj
Czasopismo
Przegląd Papierniczy
1993
|
49
|
04
|
Tytuł artykułu
Przydatnosc elektronowej mikroskopii skaningowej [SEM] do badan mikrostruktury papierow wypelnianych
Autorzy
Szymanski A.
,
Kaczmarek B.
,
Sokolow W.N.
Warianty tytułu
EN
Suitability of scanning electron microscopy [SEM] for studying of filled paper microstructure
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
EN
Słowa kluczowe
PL
przemysl papierniczy
wypelniacze
dolomit
kreda
kaolin
wlasciwosci papieru
papier
mikrostruktura
metody badan
mikroskopia skaningowa
Wydawca
-
Czasopismo
Przegląd Papierniczy
Rocznik
1993
Tom
49
Numer
04
Opis fizyczny
s.119,120,124-129,rys.,tab.,bibliogr.
Twórcy
autor
Szymanski A.
Instytut Celulozowo-Papierniczy, ul.Gdanska 121, Lodz
autor
Kaczmarek B.
autor
Sokolow W.N.
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.agro-article-e6b138a7-40ab-4c15-a7c7-15ee6a605f11
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.