Przejdź do menu głównego
Przejdź do treści
PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
test
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Artykuł - szczegóły
Narzędzia
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Adres strony
Kopiuj
Czasopismo
Przegląd Geodezyjny
2000
|
72
|
02
|
Tytuł artykułu
Swiatowe trendy w rozwoju katastru
Autorzy
Czarnecka K.
,
Hopfer A.
,
Wilkowski W.
Warianty tytułu
Języki publikacji
PL
Abstrakty
Słowa kluczowe
PL
geodezja
sprawozdania
Nowa Zelandia
kataster
konferencje
wystawy
wycieczki techniczne
swiat
perspektywy
Paihia konferencja
Wydawca
-
Czasopismo
Przegląd Geodezyjny
Rocznik
2000
Tom
72
Numer
02
Opis fizyczny
s.3-9,fot.,map.
Twórcy
autor
Czarnecka K.
autor
Hopfer A.
autor
Wilkowski W.
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.agro-article-324c7539-98b1-48e4-8482-5c993d08f2eb
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.