PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2013 | 1 |

Tytuł artykułu

Mikroskopia sił atomowych - nowa jakość pomiarów

Warianty tytułu

EN
Atomic force microscopy - new quality of measurements

Języki publikacji

PL

Abstrakty

PL
EN

Wydawca

-

Rocznik

Numer

1

Opis fizyczny

s.27-37,wykr.,fot.,bibliogr.

Twórcy

  • Zakład Projektowania Materiałów, Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, Wołoska 141, 02-507 Warszawa
autor
  • Zakład Projektowania Materiałów, Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, Wołoska 141, 02-507 Warszawa

Bibliografia

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikatory

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.agro-ee69545d-dc36-4bb4-a418-8410021bb635
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.