Przejdź do menu głównego
Przejdź do treści
PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
test
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Artykuł - szczegóły
Narzędzia
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Adres strony
Kopiuj
Czasopismo
Journal of Plant Protection Research
2020
|
60
|
2
|
Tytuł artykułu
Fine mapping of high-temperature adult-plant resistance to stripe rust in wheat cultivar Louise
Autorzy
Nazarov T.
,
Chen X.
,
Carter A.
,
See D.
Treść / Zawartość
Pełne teksty:
Pobierz
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Słowa kluczowe
Wydawca
-
Czasopismo
Journal of Plant Protection Research
Rocznik
2020
Tom
60
Numer
2
Opis fizyczny
p.126-133,fig.,ref.
Twórcy
autor
Nazarov T.
Department of Plant Pathology, Washington State University, Washington, United States
autor
Chen X.
Institute of Biological Chemistry, Washington State University, Washington, United States
autor
Carter A.
Wheat Health, Genetics, and Quality Research Unit, USDA-ARS, United States
autor
See D.
Department of Crop and Soil Sciences, Washington State University, Washington, United States
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
DOI
10.24425/jppr.2020.132213
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.agro-bc61b567-d6aa-47f0-967b-951ba6a7a35d
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.