Application of STS markers for leaf rust resistance genes in near-isogenic lines of spring wheat cv. Thatcher

• Autorzy: Chelkowski J. , Golka L. , Stepien L.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Słowa kluczowe

EN

Thatcher cultivar; spring wheat; wheat; application; resistance gene; molecular marker; Puccinia recondita f.sp.tritici; leaf rust; near-isogenic line

• Wydawca: -
• Czasopismo: Journal of Applied Genetics
• Rocznik: 2003
• Tom: 44
• Numer: 3
• Opis fizyczny: p.323-338,fig.

Twórcy

autor

Chelkowski J.

• Polish Academy of Sciences, Strzeszynska 34, 60-479 Poznan, Poland

autor

Golka L.

autor

Stepien L.