Seminarium: Systemy geodezyjne firmy Zeiss

• Autorzy: Sledzinski J.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

geodezja; firma Zeiss; odbiorniki satelitarne; optyka; przyrzady pomiarowe; pomiary geodezyjne; konferencje; Warszawa konferencja

• Wydawca: -
• Czasopismo: Przegląd Geodezyjny
• Rocznik: 1997
• Tom: 69
• Numer: 05
• Opis fizyczny: s.21,fot.

Twórcy

autor

Sledzinski J.

• Politechnika Warszawska, Warszawa