Dyfuzja wapnia do tkanki burakow cukrowych

• Autorzy: Gruska R , Wojtczak M.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Koagulacyjne i adsorpcyjne właściwości związków wapnia są powszechnie wykorzystywane w przemyśle cukrowniczym. W artykule omówiono dyfuzję wapnia w tkance żywej buraków cukrowych, denaturowanej termicznie oraz poddanej obróbce prądem elektrycznym. Do jego oznaczania zastosowano metodę spektrometrii absorpcji atomowej. Stwierdzono, że w tkance buraczanej wapń dyfunduje maksymalnie na głębokość 5–6 mm. Obliczono współczynniki dyfuzji wapnia w tkance oraz wykonano ich analizę porównawczą, która wykazała, że w procesie dyfuzji wapnia istotną rolę odgrywa nie tylko różnica stężeń, ale też interakcje wapnia z pektynami. Dotyczy to zwłaszcza tkanki poddanej różnym zabiegom fizykochemicznym, zmieniającym stopień zestryfikowania pektyn.

EN

Coagulation and adsorption properties of chemical compounds of calcium are commonly used in the sugar industry. The paper presents an analysis of calcium diffusion into live tissue of sugar beetroot and into tissue denatured using the impact of temperature and electric field. A method of atomic absorption spectrometry was used to determine the calcium diffusion. It was stated that the maximum diffusion of calcium into beetroot tissue was 5-6 mm. Calcium diffusion coefficients into sugar beetroot tissue were calculated and comparatively analysed. The results obtained showed that both the calcium concentration levels and the calcium interactions with pectins played the significant role during the calcium diffusion process. In particular, this statement refers to a tissue being processed by various physical and chemical treatment procedures changing the degree of pectin esterification.

Słowa kluczowe

PL

spektrometria atomowa absorpcyjna; buraki cukrowe; prad elektryczny; przemysl cukrowniczy; wspolczynnik dyfuzji; wapn; dyfuzja; konferencje; tkanki roslinne; cukier bialy; sacharoza; Krakow konferencja

EN

atomic absorption spectrometry; beet sugar; electrical current; sugar industry; diffusion coefficient; calcium; diffusion; conference; plant tissue; white sugar; saccharose; Krakow conference

• Wydawca: -
• Czasopismo: Żywność Nauka Technologia Jakość. Suplement
• Rocznik: 2004
• Tom: 11
• Numer: 3
• Opis fizyczny: s.87-97,rys.,bibliogr.

Twórcy

autor

Gruska R

• Politechnika Lodzka, ul.Stefanowskiego 4/10, 90-924 Lodz

autor

Wojtczak M.

Bibliografia

• [1] Acrosi C.A., Zama F.: Alkalische Extraktion von angefaulten Zuckerrüben. Zuckerind., 1993, 118, 447.
• [2] Buchholz K., Shliephake D.: Über die Kampagne 1988 und neuere technologische Entwicklungen. Zuckerind., 1989, 114, 275-290.
• [3] Buromski W.W., Butajenko I.F.: Wlijani effekta oczistki na diffuzii i na wychod sachara. Sach. Prom., 1997, 12,
• [4] Dobrzycki J.: Chemiczne podstawy technologii cukru, WNT. Warszawa 1984.
• [5] Grabka J.: Aspekty technologiczne wapnowania krajanki buraczanej. Gaz. Cukr. 1996, 4, 64-67.
• [6] Gruska R.: Wpływ dodatku wodorotlenku wapnia na czystość soku buraka cukrowego. Żywność. Nauka. Technologia. Jakość, 2002, 3 (32) Supl., 66-72.
• [7] Heux L., Dinand E., Vignon M.R.: Structural aspects in ultrathin cellulose microfibrils followed by 13C CP-MAS NMR. Carbohydr. Pol. 1999, 40, 115-124.
• [8] Poradnik inżyniera-Cukrownictwo - pod red. J. Dobrzyckiego. WNT, Warszawa 1987.
• [9] Richter E., Ehwald R.: Parenchymal transport of 14C sucrose and 14C mannitol in sugar beet roots after introduction via xylem vessel. Plant Sci. Lett. 1983, 32, 177-181.
• [10] Van der Poel P., Schiweck H., Schwartz T.: Sugar technology - Beet and cane sugar manufacture, Verlag Dr. Albert Bartens KG, Berlin 1998.
• [11] Vukov K.: Physics and chemistry of sugar-beet in sugar manufacture. Akad. Kiado, Budapest 1977.
• [12] Wawro S., Gruska R., Zybert R.: Piorunowe udary napięciowe jako alternatywna obróbka korzeni buraków przed procesem ekstrakcji. Artykuł złożony do druku w Gaz. Cukr. 2004 .
• [13] Zybert R.: Układ generatora napięć udarowych piorunowych do badań urządzeń elektrycznych niskiego napięcia. Wiad. Elektrotech., 2003, 6, 279-280.