Urzadzenia do kontroli jakosci form offsetowych

• Autorzy: Khadzhynova S. , Kryczka M. , Waszkiewicz I.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

nowe technologie; papier zadrukowany; urzadzenia pomiarowe; druk offsetowy; metody pomiarowo-obliczeniowe; papier powlekany; prace badawcze

• Wydawca: -
• Czasopismo: Przegląd Papierniczy
• Rocznik: 2006
• Tom: 62
• Numer: 02
• Opis fizyczny: s.105-108,rys.,tab.,bibliogr.

Twórcy

autor

Khadzhynova S.

• Politechnika Lodzka, ul.Wolczanska 219/223, 93-005 Lodz

autor

Kryczka M.

autor

Waszkiewicz I.