Przejdź do menu głównego
Przejdź do treści
PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
test
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Artykuł - szczegóły
Narzędzia
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Adres strony
Kopiuj
Czasopismo
Przegląd Geodezyjny
1998
|
70
|
02
|
Tytuł artykułu
Konferencja naukowo-techniczna nt. Mozliwosci zastosowania instrumentow firmy Leica w pelnych liniach technologicznych
Autorzy
Sledzinski J.
Warianty tytułu
Języki publikacji
PL
Abstrakty
Słowa kluczowe
PL
geodezja
Politechnika Warszawska
zastosowanie
odbiorniki satelitarne
linie technologiczne
sprzet geodezyjny
konferencje
firma Leica
Warszawa konferencja
Wydawca
-
Czasopismo
Przegląd Geodezyjny
Rocznik
1998
Tom
70
Numer
02
Opis fizyczny
s.27-28,fot.
Twórcy
autor
Sledzinski J.
Politechnika Warszawska, 00-661 Warszawa, pl.Politechniki 1
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.agro-article-4463ad27-cd43-4cc7-86af-2c6b5332da99
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.