PL
Ścisłe doświadczenie polowe w układzie losowanych podbloków wykonano w latach 2001–2003. Czynnik I stanowiły cztery technologie uprawy fasoli: I – ekstensywna, II – umiarkowanie intensywna, III – intensywna i IV – bardzo intensywna, różniące się stopniem zaangażowania przemysłowych środków produkcji. Przedmiotem badań (czynnik II) były trzy odmiany fasoli szparagowej: Bona, Madera i Presenta. Większość analizowanych elementów struktury plonu strąków oraz ich cech morfologicznych podlegała istotnemu wpływowi zastosowanych technologii, przy czym tylko w przypadku liczby strąków na jednej roślinie zanotowano swoistą reakcję odmian. Udział strąków standardowych (handlowych) wynosił średnio 85,5% i był istotnie najmniejszy w technologii ekstensywnej (80,5%), a w pozostałych technologiach podobny. Strąki dojrzałe – z wyrośniętymi nasionami i strąki niekształtne stanowiły w plonie średnio 4,5 i 6,9% i nie były różnicowane istotnie przez zastosowane technologie. Tylko wysokość roślin ulegała istotnemu wzrostowi w miarę każdorazowego zwiększania intensywności technologii uprawy fasoli.
EN
The exact, 2-factor field experiment was carried out over 2001–2003 in split-plot design. Four cultivation technologies (extensive, semi-intensive, intensive and very intensive) differed in production means application constituted the first factor, while three common bean cultivars – Bona, Madera and Presenta the second one. The value of most examined pod bean yield components as well as pod morphological traits increased following the cultivation technology, however the cultivars tested differ in reaction to cultivation technologies in the number of pods per plant, only. The average share of standard (market) pods slightly exceeded 85% and was lowest at the extensive technology (80.5%) while did not differ significantly at the other technologies. The share of matured pods with oversized seed beans and shapeless pods were not affected significantly by the common bean cultivation technologies applied. The plant height was the only trait value of which increased with the intensity of applied technology.