Zastosowanie spektrometrii fluorescencji rentgenowskiej całkowitego odbicia (TXRF) do oznaczania zawartości krzemu w materiale roślinnym

• Autorzy: Palacz M.

Warianty tytułu

EN

Application of total reflection X-ray fluorescence spectrometry (TXRF) in determining content of silicon in plant material

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

EN

• Wydawca: -
• Czasopismo: Żywność Nauka Technologia Jakość
• Rocznik: 2020
• Tom: 27
• Numer: 4
• Opis fizyczny: s.90-102,fot.,rys.,tab.,bibliogr.

Twórcy

autor

Palacz M.

• Fundacja Uniwersytetu im. A. Mickiewicza w Poznaniu, Poznański Park Naukowo-Technologiczny, ul. Rubież 46, 61-612 Poznań

Identyfikatory

DOI

10.15193/zntj/2020/125/361