Wykorzystanie mikroskopii skaningowej w ocenie wytrzymałości okrywy nasiennej soi, grochu i soczewicy

• Autorzy: Dobrzański B. , Szot B.

Warianty tytułu

EN

Scaning microscopy in estimation of the seed coat strength of soybean, pea, and lentil seed

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

EN

Słowa kluczowe

EN

soybean; Glycine hispida; soybean seed; garden pea; Pisum sativum; pea seed; lentil; Lens culinaris; lentil seed; leguminous seed; seed coat; seed resistance; tensile strength; scanning microscopy

• Wydawca: -
• Czasopismo: Acta Agrophysica
• Rocznik: 2001
• Tom: 58
• Opis fizyczny: s.51-58,rys.,bibliogr.

Twórcy

autor

Dobrzański B.

• Instytut Agrofizyki im. Bohdana Dobrzańskiego, Polska AKademia Nauk, ul.Doświadczalna 4, 20-149 Lublin

autor

Szot B.

• Instytut Agrofizyki im. Bohdana Dobrzańskiego, Polska AKademia Nauk, ul.Doświadczalna 4, 20-149 Lublin