PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2018 | 113 |

Tytuł artykułu

Capacitance/resistance rodeling and analog performance evaluation of 3-D SOI FinFET structure for circuit perspective applications

Autorzy

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma

Warianty tytułu

Języki publikacji

EN

Abstrakty

EN

Słowa kluczowe

Wydawca

-

Rocznik

Tom

113

Opis fizyczny

p.194-209,fig.,ref.

Twórcy

autor
  • Department of Electronics and Communication Engineering, Dr. B.R. Ambedkar National Institute of Technology (NIT), 144011 Jalandhar (Punjab), India
autor
  • Department of Electronics and Communication Engineering, Dr. B.R. Ambedkar National Institute of Technology (NIT), 144011 Jalandhar (Punjab), India

Bibliografia

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikatory

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.agro-2add36a3-0a95-4d49-af81-61b8b3b33643
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.